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高压陶瓷电容器的测验方法
高压陶瓷电容器的可靠性测验，也叫老化测验，寿数测验，包含很多方面的测验内容：
1、串联电阻测验，绝缘电阻测验；
2、拉力测验，即引线与芯片焊接的结实度；
3、正负温改变率测验，即-40度到+60度状况下，电容的改变率；
4、老化测验，高压陶瓷电容在模仿作业环境状态下运作30~60天，测验其衰减其各项参数的改变；
5、耐压试验，包含额定作业电压24小时作业测验；也包含击穿耐压，即破坏性测验，电容被击穿前的那一个临界电压就是击穿电压。
6、局放测验，即部分放电测验；
7、寿数测验，即在老化测验的基础上，再对电容进行高频冲电流下快速充放电测验，得到的充放电次数就是充放电寿数，留意，这个寿数的得出是在长时间的老化之后得出的。
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